BeschreibungWafer prober service configuration.jpg
English: An Electroglas 4090μ+ semiconductor wafer prober in service configuration, with test head, probe card, cover panels and other accessories removed. Internal parts are shown; the linear motor and platen, chuck and stage and material handling elements are shown.
verbreitet werden – vervielfältigt, verbreitet und öffentlich zugänglich gemacht werden
neu zusammengestellt werden – abgewandelt und bearbeitet werden
Zu den folgenden Bedingungen:
Namensnennung – Du musst angemessene Urheber- und Rechteangaben machen, einen Link zur Lizenz beifügen und angeben, ob Änderungen vorgenommen wurden. Diese Angaben dürfen in jeder angemessenen Art und Weise gemacht werden, allerdings nicht so, dass der Eindruck entsteht, der Lizenzgeber unterstütze gerade dich oder deine Nutzung besonders.