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Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung

(Weitergeleitet von Siegfried Werth Stiftung)

Die Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung ist eine gemeinnützige Stiftung mit Sitz in Gießen. Sie fördert seit 1988 jährlich wissenschaftliche Arbeiten auf dem Gebiet der Messtechnik.

Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung
Rechtsform rechtsfähige Stiftung bürgerlichen Rechts
Gründung 1987
Sitz Gießen, Deutschland
Zweck Förderung und Finanzierung wissenschaftlicher Arbeiten auf dem Gebiet der berührungs-
losen dimensionalen Messtechnik
Vorsitz Arno Fink
Website Profil auf werth.de

Geschichte

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Siegfried Werth (1907–1982)
 
Unternehmensstandort der Werth Messtechnik GmbH und Sitz der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung in Gießen

Siegfried Werth gründete 1951 eine Apparate- und Maschinenbaufirma in Düsseldorf, die Messgeräte und Messprofilprojektoren herstellte. 1958 siedelte das Unternehmen nach Gießen um, wo eine neue Fertigungsstätte errichtet wurde. Heute firmiert die Gesellschaft unter Werth Messtechnik GmbH. Nach seinem Tod wurde von seiner Witwe, Maria Werth, zum Gedenken an das Lebenswerk ihres Mannes im Jahr 1987 eine zunächst nicht rechtsfähige Stiftung unter dem Namen Dr.- Ing. Siegfried Werth-Stiftung ins Leben gerufen, die 1995 in eine rechtsfähige, gemeinnützige Stiftung übergeleitet wurde. Sitz der Stiftung ist Gießen.

Zweck

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Ist die Förderung[1] und Finanzierung wissenschaftlicher Arbeiten auf dem Gebiet der berührungslosen dimensionalen Messtechnik.

Der Stiftungszweck wird insbesondere durch die Prämierung von wissenschaftlichen Arbeiten von Nachwuchswissenschaftlern nach Erlangung des ersten akademischen Grades auf dem Gebiet der industriellen Messtechnik oder verwandten Gebieten oder durch Vergabe von Forschungsaufträgen einschließlich Promotionsvorhaben an begabte Nachwuchswissenschaftler erfüllt.

Organ

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Einziges Stiftungsorgan ist das Kuratorium. Ihm gehören vier ehrenamtliche Kuratoren an, aus deren Mitte der Vorsitzende des Kuratoriums für eine Amtszeit von 5 Jahren gewählt wird und der die Stiftung gemeinsam mit einem weiteren Mitglied in allen gerichtlichen wie auch außergerichtlichen Angelegenheiten vertritt.

Preisträger und Geförderte

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Entsprechend dem Stiftungszweck wurden folgende junge Wissenschaftler mit Preisen der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung ausgezeichnet, oder ihre wissenschaftliche Entwicklung durch Stipendien gefördert:

Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Beiträge zur Entwicklung eines Röntgendetektors für Koordinatenmessgeräte mit Röntgen-Computertomografie“
Preis für hervorragende Masterarbeiten
„Ermitteln eines 3D-Modells des Innenvolumens von Schuhen mit der Hilfe von Computertomographie Daten“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Untersuchungen zu deterministischem und stochastischem Streulicht in hocheffizienten binären Beugungsgittern“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Tailored light propagation by femtosecond pulse written long period fiber gratings“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Pattern Illumination for Lightfield Camera“
Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Einflussgrößen auf die Längenmessabweichung bei der Koordinatenmessung mit Röntgen-Computertomografie“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Zeit- und ortsaufgelöste Analyse der Wechselwirkung intensiver ultrakurzer Laserpulse mit Gläsern“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Artifact Correction and Real-Time Scatter Estimation for X-Ray Computed Tomography in Industrial Metrology“
Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Photon-pair generation in photonic crystal waveguides“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Interferometrische Lasersensoren zur dreidimensionalen, in-situ Formvermessung rotierender Körper“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Hochgeschwindigkeits-3D Formvermessung mittels aperiodischer Sinus-Muster“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Deflektometrie in Transmission – Ein neues Messverfahren zur Erfassung der Geometrie asphärischer refraktiver Optiken“
Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Konstruktion und Bau eines modularen CT-Systems für Mikro- und Sub-µ-Anwendungen“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Scanning Near-Field Optical Microscopy: From Single-Tip to Dual-Tip Operation“
Preis für hervorragende Masterarbeiten
„Untersuchungen zur Auswirkung verschiedener Einflussgrößen auf dimensionelle Computertomographie-Messungen“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Light Refractive Tomography for Noninvasive Ultrasound Measurements in Various Media“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Mess- und Auswertestrategien zur modellbasierten Bewertung funktionaler Eigenschaften mikrostrukturierter Oberflächen“
Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Untersuchung der Filtereigenschaften beim Messen mit industrieller Computertomographie im Vergleich mit taktilen Messsystemen“
Preis für hervorragende Dissertationen
„High-Resolution Extreme Ultraviolet Microscopy“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Aufgabenangepasste, kontrollierte Oberflächenextraktion aus 3D-Computertomographiedaten“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Bestimmung von Unsicherheitsbeiträgen bei medizinischen Computertomografiemessungen für die bildbasierte navigierte Chirurgie“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Untersuchungen zur korrelationsbasierten Punktzuordnung in der stereophotogrammetrischen 3D-Objektvermessung unter Verwendung von Sequenzen strukturierter Beleuchtung“
Preis für hervorragende Masterarbeiten
„Entwicklung eines polarisationssensitiven optischen Kohärenztomographie (OCT) Systems zur Echtzeitmessung semitransparenter Materialien“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Erweiterung der Einsatzgrenzen von Sensoren für die Mikro- und Nanomesstechnik durch dynamische Sensornachführung unter Anwendung nanometeraufgelöster elektrischer Nahfeldwechselwirkung“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Mode control with ultra-short pulse written fiber Bragg gratings“
Preis für besonders gute Studienarbeiten
„Konzept zur Messung tiefliegender Sacklochdurchmesser“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Simulationsgestützte Abschätzung der Genauigkeit von Messungen mit Röntgen-Computertomographie“
Preis für hervorragende Diplomarbeiten
„Machine-Vision-Integration zur prozessfähigen Automatisierung der Handhabung von CFK-Halbzeugen“
Preis für hervorragende Dissertationen
„Design, Realisierung und Charakterisierung von optischen Metamaterialien mit negativer Brechzahl“
Preis für hervorragende Diplomarbeiten
„Entwicklung der Beleuchtungsoptik einer Mikrostreifenprojektionseinheit“
Preis für hervorragende Studienarbeiten
„Validierung einer Messunsicherheitssimulation für Röntgen-Computertomographie“
Preis für hervorragende Dissertationen[2]
„Mosaik-Gitter-Kompressor für Femtosekunden-Laserimpulse hoher Energie“
Preis für hervorragende Master- bzw. Diplomarbeiten
„Auflösungssteigerung bei optischen Rastermikroskopen mit Hilfe eines bildinvertierenden Interferometers“
- Promotionsstipendium - [3][4]
Preis für Adaptive Verfahren zur Bewertung texturierter Oberflächen"
Preis[5][6] für „Rasterreflexions-Photogrammetrie zur Messung spiegelnder Oberflächen“
Preis für „Pose Estimation Revisited“
Marcus Jacob, Fachhochschule Jena
Oliver Gächter / Roger Caviezel, Hochschule für Technik Buchs, Schweiz
Sonderpreise zum 50-jährigen Firmenjubiläum der Werth Messtechnik GmbH
Preis für „Das Virtuelle Interferometer – Modellgestützte Optimierung“
Thomas Luhmann, Fachhochschule Odenburg
Sonderpreis für „Nahbereichs-Photogrammetrie“
  • 1998 Ralph Peter Knorpp, Fraunhofer-Institut, Stuttgart
Preis für „Formleitlinien für die Flächenrückführung Extraktion von Kanten und Radiusauslauflinien aus unstrukturierten 3D-Meßpunktmengen“
Preis für„Doppelheterdoyn-Interferometrie zur Profil- und Abstandsmessung an optisch rauhen Oberflächen“
  • 1994 Christian Troll / Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau
Preis für „Transformationsmeßsysteme mit Auswertung von Strichcodestrukturen zur absoluten Weg- und Winkelmessung“
  • 1991 Thomas Sefker, Universität GHS Essen
Preis für „Verallgemeinerte Darstellung des Verhaltens isothermer Freistrahlen“
Preis für „Entwicklung einer hochauflösenden CCD-Kamera mit programmierbarer Auflösung“
Preis für„Integration der Bildverarbeitung in Profilprojektoren“
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Einzelnachweise

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  1. ↑ Werth Messtechnik: Hauszeitschrift ‘Der Multisensor’ (Memento des Originals vom 4. März 2016 im Internet Archive)  Info: Der Archivlink wurde automatisch eingesetzt und noch nicht geprüft. Bitte prüfe Original- und Archivlink gemäß Anleitung und entferne dann diesen Hinweis.@1@2Vorlage:Webachiv/IABot/www.werth.de (PDF; 2,3 MB) vom September 2008, Seite 1. Abgerufen am 6. Juli 2011.
  2. ↑ Uni -Journal Jena 11/2011 Preisverleihung an Dr. Hornung; im Artikel "Goldener Doktor" (Memento vom 31. März 2016 im Internet Archive)
  3. ↑ QZ - Qualität und Zuverlässigkeit 10/2008 Siegfried Werth Stiftung übergibt Stipendium
  4. ↑ Pressemitteilung Westsächsische Hochschule Zwickau 25. September 2008, Seite 1 (Memento vom 14. Dezember 2010 im Internet Archive) (PDF; 65 kB)
  5. ↑ Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis 2005. In: quality-engineering.industrie.de. 6. April 2005, abgerufen am 26. November 2022.
  6. ↑ Pressemitteilung Nr. 68/2005 TU Braunschweig (Memento vom 4. März 2016 im Internet Archive)
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