Diskussion:Focused Ion Beam

Ionenätzen

Wenn einmal Zeit ist, könnte klarer getrennt werden zwischen Abbildung, Analytik und simplem Materialabtrag. Anton 14:02, 17. Dez. 2006 (CET)

Geht das schnell: Ionendünnung (langes Suchen ist oft schneller als neu schreiben...) Anton 14:07, 17. Dez. 2006 (CET)

Schreibweise mit bzw. ohne Bindestrich

Von meiner Benutzerdiskussionsseite hierher kopiert, weil das mit der korrekten Schreibweise nicht ganz einfach ist:

Focused Ion Beam ist ein fremdsprachlicher Begriff und ein Fachausdruck, der nicht in den üblichen deutschen Sprachgebrauch übergegangen ist wie bspw. Casting-Show. Deshalb bleibt die getrennte englische Schreibweise. Wenn es dagegen mit dem deutschen Wort Mikroskop verknüpft wird, so wird es gewissermaßen als Spezifizierung des Mikroskops an das deutsche Wort angekoppelt und durchgekoppelt. Was "üblich" ist und was nicht, da besteht eine Grauzone und Schreibweisen ändern sich auch mit der Zeit, aber beim Focused Ion Beam ist es wohl ziemlich eindeutig. Siehe auch Durchkopplung#Englische Wörter. Gruß -- Harro von Wuff 23:23, 27. Mai 2008 (CEST)

--Kein Einstein 13:21, 30. Mai 2008 (CEST)

Bild FIB Aufnahme

Hallo!

Ich habe hier mal ein Bild hochgeladen. Man sieht, wie von einer Magnesium-Probe mit einem Galium-Ionenstrahl eine Rechteckfläche abgetragen wurde. Eine Erklärung für das Artefakt habe ich aber nicht. Vielleicht weiß jemand hier weiter?

http://de.wikipedia.org/wiki/Datei:Artefakt_in_magnesium_sample_after_focussed_galium_ion_beam_treatment.jpg#file

Jedenfalls ist das Bild zur freien Verwertung für die Wikipedia.

Nachtrag: Es handelt sich aller Wahrscheinlichkeit nach um Kristallwachstums-spiralen. Ob diese nur beim Wachsen oder aber auch beim FIB-Abtragen auftreten können ist offen (aus meiner Sicht, lerne gerne dazu!)

--Rappel1

Wenn beim Abtragen Effekte auftauchen sehen, die üblicherweise nicht so "schön" aus. Da sieht man Streuselkuchen oder Schneetreiben, aber keine so schönen Schraubenversetzungslinien.

-- 131.188.233.194 13:43, 12. Aug. 2010 (CEST)

Focused Ion Beam

Ich habe jetzt häufiger "Ionenfeinstrahlanlage" in der Wissenschaft gelesen und finde, das ist ein guter Terminus, der den englischen Titel ersetzen könnte. Ich weiß allerdings nicht, wie der Titel eines Artikels geändert werden kann. Das wäre nicht nur sprachlich wünschenswert, sondern auch begrifflich trennschärfer, denn die Definition, ein FIB sei ein Gerät, ist natürlich etwas salopp, ein FIB ist ja ein Strahl. Andreas Berning 12:49, 23. Jun. 2009 (CEST)

Zu Focused Ion Beam finde ich über 500 deutschsprachige Fundstellen bei Google, zur Ionenfeinstrahlanlage etwa 20. Diese Enzyklopädie will den Sprachgebrauch abbilden und nicht den „besseren“ Sprachgebrauch befördern. Meines Erachtens ist der deutsche Begriff noch bei Weitem nicht genug verbreitet, um das Lemma zu verändern. Grüße, Kein Einstein 15:30, 23. Jun. 2009 (CEST)

Die WP wünscht jedoch das deutsche Lemma, sofern es eines gibt, es ist nicht ein Fremdsprachenlexikon daher verschieben. Stützende Argumentation siehe oben. ping an Andreas Berning, Kein Einstein---Ulf 17:48, 7. Nov. 2021 (CET)

Die Aussage „Die WP wünscht jedoch das deutsche Lemma“ finde ich nicht in unseren Regeln. In WP:NK steht: „Allgemein sollte als Artikeltitel (Lemma) die Bezeichnung verwendet werden, die für den im Artikel behandelten Sachverhalt im deutschen Sprachraum am gebräuchlichsten ist.“ - und wenn das ein Ausdruck ist, der aus einem anderen Sprachraum stammt, dann ist das dennoch so. Es wäre also der Beleg zu führen, dass "Ionenfeinstrahlanlage" im deutschen Sprachraum die gebräuchlichere Bezeichnung ist gegenüber "Focused Ion Beam". Gruß Kein Einstein (Diskussion) 18:38, 7. Nov. 2021 (CET)

In der deutschsprachigen Halbleiterfertigung wird allgemein der Begriff FIB - also Focused Ion Beam - verwendet. Grüße, --ErwinMeier (Diskussion) 15:09, 8. Nov. 2021 (CET)

Tja, es ist ein bisschen bitter, dass jeder aus Verlegegenheit oder gedankenlos übernommene englische Begriff fast automatisch als unantastbarer Fachausdruck im Deutschen gilt. Und dass man den Gebrauch eines deutschen Begriffs rechtfertigen muss. Ich gebe auf. --Andreas Berning (Diskussion) 12:53, 2. Mär. 2022 (CET)

"komplexe organische Platinverbindung"

Die angegebene Formel muss falsch sein. An dem Kohlenstoffatom zwischen der tertiären Gruppe und dem Ring hängen 7 Substituenten. Maximal möglich sind 4. Ich nehme an es muss (CH_3)_3CCH_3C_5H_9Pt heißen. Da ich die Verbindung aber nicht kenne, kann ich es nicht genau sagen. (nicht signierter Beitrag von 139.18.53.226 (Diskussion) 10:52, 14. Feb. 2011 (CET))

Darüber bin ich auch gerade beim Lesen gestolpert. Ich vermute, dass Trimethy(methylcyclopentadienyl)platin(IV) gemeint ist. Korrekt als Formel würde es dann MeCpPtMe₃ bzw. C₅H₄CH₃Pt(CH₃)₃ heißen müssen. --Trilemma2 (Diskussion) 23:15, 28. Feb. 2013 (CET)

Absatz zur Auflösung und Aufladungseffekt

Ich habe den Absatz einfach mal gelöscht, den die Auflösung ist nicht wellenlängenlimitiert, Ga-FIBs (also 99% aller FIBs) haben praktisch viel schlechtere Auflösungen. Die He-Fraktion behauptet zwar sie hätte bessere Werte als ein REM, dann sollen sie es aber dort hinschreiben. Auch das Thema Aufladungseffekte ist viel komplexer. In der FIB gibt es quasi immer Aufladungseffekte, im SEM hängt das auch von der Beschleunigungspannung ab. Ansonsten würden Floating-Guns in SIMS Geräten keinen Sinn machen. Wer behauptet in der FIB seien Aufladungen kein Problem, hat noch nicht eine schlecht geerdete Probe bearbeitet.Sciing (Diskussion) 22:05, 11. Jan. 2013 (CET)

Ein Beleg wäre nett. Kannst du eine Quelle angeben? Kein Einstein (Diskussion) 22:07, 11. Jan. 2013 (CET)

Ich arbeite täglich damit? Ansonsten kann ich Dir die Specs von Dualbeam Geräten raus suchen. Aber bitte drehe nicht die Anforderungen um. Der Absatz steht ja ohne Beleg drin, ist aber offentsichtlicher Unfug, die Wellenlänge eines 10kV Elektrons ist 12pm (1/100 der erreichbaren Auflösung). Eine FIB hat auch Aufladungen, es treffen nur positive Ionen auf Proben aber SEs werden abgezogen und genau das wird ja auch speziell zur Fehlerlokalisierung genutzt(siehe auch http://www.fibics.com/fib/tutorials/FIB-Voltage-Contrast/2/)--Sciing (Diskussion) 23:51, 11. Jan. 2013 (CET)

Was als Ausgangspunkt natürlich sehr plausibel rüberkommt, ist die kleinere De-Broglie-Wellenlänge. Kannst du aus dem gelöschten Absatz unter Einbeziehung deiner Argumente hier nicht einfach ein Absätzlein "Trotz der kleineren De-Broglie-Wellenlänge ist...." machen? Dann haben wir statt einer Löschung eine Verbesserung. Gruß Kein Einstein (Diskussion) 11:25, 12. Jan. 2013 (CET)

Ich habe mal was versucht, und im Wahn gleich weiter gemacht, bitte die Änderungen akzeptieren, ich hoffe ich kann das noch weiter entwickeln, so ganz systematisch ist das alles noch nicht;-)--Sciing (Diskussion) 15:05, 12. Jan. 2013 (CET)

Habe gerade wenig Zeit, mir gleich drum zu kümmern. Das sieht aber jedenfalls schon mal ganz gut aus. Danke und Gruß Kein Einstein (Diskussion) 15:43, 12. Jan. 2013 (CET)

Große Umarbeitung

Ich habe den Artikel ziemlich zerpflückt und umgeschrieben. Ich hoffe er ist erstmal auf einen besseren Weg. Ich denke ich werde mich in Zukunft intensiver drum kümmern. Allein schon die Einleitung gefällt mit gar nicht. Jede FIB ist zur Materialbearbeitung da. Dafür sind sie mal entwickelt wurde. Das hier He-Mikroskope drin stehen akzeptiere ich mal. Aber eigentlich werden die nicht als FIB bezeichnet. Ich glaube hier wollte die FIB zur Ionenpolierverfahren abdrehen, aber zwischen FIB und Ionenpolieren liegen Welten.--Sciing (Diskussion) 15:03, 12. Jan. 2013 (CET)

Mit heißer Wolframnadel?

"Gallium wird mittels einer Wolframnadel bis zum Schmelzpunkt erhitzt" -- wie geht das? --UvM (Diskussion) 19:03, 18. Feb. 2013 (CET)

Ionenstrahlschreiben

http://www.anphy.uni-duesseldorf.de/personal/profile/hammer/mkraemer.pdf Das Verfahren bezeichnet man auch als Ionenstrahlschreiben.

--Harald321 (Diskussion) 20:22, 6. Jul. 2014 (CEST)

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  • Artikel mit gleicher URL: Helium-Ionen-Mikroskop (aktuell)

– GiftBot (Diskussion) 08:09, 28. Dez. 2015 (CET)